機器一覧(修正中)

部門

項目

機器名機関部門対象試料メーカー・型番略称名設置年
透過型電子顕微鏡甲府形状観察 構造解析日本電子・JEM2000FX-IITEM1992
電界放射型透過電子顕微鏡甲府形状観察 構造解析FEI・Tecnai OsirisFE-TEM2010
走査型プローブ顕微鏡甲府形状測定 形状観察ブルカージャパン・Dimension IconSPM2014
集束イオンビーム甲府電顕前処理日立ハイテクノロジーズ・FB-2100AFIB2004
低角イオンミリング甲府電顕前処理ガタン・PIPS2005
試料研磨システム甲府電顕前処理
試料トリミング装置甲府電顕前処理Leica・EMTRIM2005
硬質材料用?研磨装置甲府電顕前処理ムサシノ電子・MA-150
マニピュレータ甲府電顕前処理駿河精機・M3412005
真空蒸着装置(TEM試料室)甲府電顕前処理サンユー電子・QuickCarbonCoaterSC-701C
ウルトラミクロトーム甲府電顕前処理REICHERT・SUPERNOVA2004
クライオミクロトーム甲府電顕前処理Leica・ULTRACUT UCT2004
プラズマクリーナ甲府電顕前処理FISHIONE・MODEL10202004
試料包埋機甲府電顕前処理リファインテック・ラピッドプレス2012
真空蒸着装置甲府電顕前処理日本電子・JEE-400DP
インレンズ型電界放射型走査電子顕微鏡甲府形状観察 元素分析日立ハイテクノロジーズ・S-5200FE-SEM2016
X線光電子分光装置甲府元素分析 構造解析日本電子・JPS-9200XPS2002
オージェ電子分光装置甲府日本電子・JAMP-7810AES2002
分光エリプソメータ?甲府センテック・SE8002002
分光エリプソメータ?甲府J.A.ウーラム・RC2-U-Yk2012
触針式表面形状測定装置甲府形状測定Veeco・Dektak1502010
真空蒸着装置甲府電顕前処理日本電子・JEE-420T2002
機械研磨装置甲府電顕前処理丸本ストルアス・Rotopol-15
電解研磨装置甲府電顕前処理丸本ストルアス・Lectropol-5
イオンエッチング装置甲府電顕前処理ガタン・MET-ETCH
ソフトエッチング装置甲府電顕前処理2006
イオンスパッタ装置甲府電顕前処理日立ハイテクノロジーズ・E-10302004
オスミウムコータ甲府電顕前処理フィルジェン・OPC60N2004
三次元座標測定機甲府形状測定東京精密製・ザイザックスGC800D1987
円柱形状測定機(設備NWに無し)甲府1987
三次元粗さ測定機甲府形状測定サーフコム・554AD1987
小型万能試験機甲府機械特性島津製作所・AGS-H2009
歪測定機甲府機械特性
ナノインデンタ甲府機械特性ナノインスツルメンツ・NANO G2002008
カラーレーザ顕微鏡甲府形状観察 形状測定キーエンス・VK-85102003
液体窒素(供給)甲府その他
極低温ヘリウム冷凍機甲府その他
低振動型極低温ヘリウム冷凍機甲府
ホール測定装置甲府半導体物性東陽テクニカ・ResiTest83002009
DLTS測定装置甲府半導体物性2009
強誘電体特性測定装置甲府半導体物性2009
半導体C-V測定装置甲府半導体物性2009
多目的X線回折装置甲府構造解析リガク・Smart LabXRD2009
熱重量示差熱分析装置甲府物性評価リガク・TG-DTA8122TG-DTA2019
示差走査熱量分析装置(DSC)甲府物性評価TG-DTA2019
熱分析装置甲府物性評価マックサイエンス2000STG-DTA
核磁気共鳴装置 500MHz甲府構造解析ブルカージャパン・AVANCEⅢHDNMR2013
液体クロマトグラフ質量分析装置甲府構造解析Waters・ ACQUITY UPLCLC-MS2008
有機微量元素分析装置甲府元素分析Thermo Fisher Scientific・Flash EA 1112 Series2006
ガスクロマトグラフ質量分析装置甲府構造解析日本電子・Jms-Q1000GC MKⅡGC-MS2009
ICP発光分光分析装置甲府元素分析日立ハイテクサイエンス・ SPS3520UV-DDICP-OES2013
フーリエ変換赤外分光光度計甲府構造解析SHIMADZU・FTIR-8700&AIM-88001998
顕微紫外可視近赤外分光光度計甲府構造解析JASCO・MSV-5200UV-vis/NIR2012
レーザーラマン分光光度計甲府構造解析日本分光・NRS-21002003
Heリークディテクター甲府その他ANELVA・HELEN M-212LD2012
クロスセクションポリッシャ甲府電顕前処理日本電子・IB-09010cpCP2013
電子スピン共鳴装置甲府構造解析日本電子・JES-FA200ESR2019
粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置甲府物性評価マルバーンゼータサイザーナノZSP2020
密着強度測定機甲府機械特性フォトテクニカ・ロミュラスⅣ2006
ソフトプラズマエッチング装置甲府電顕前処理メイワフォーシスSEDE-GE
電界放射型電子プローブマイクロアナライザー甲府元素分析 形状観察日本電子・JXA-iHP200FFE-EPMA2021
電界放射型走査電子顕微鏡甲府形状観察 元素分析日本電子・JSM-IT700HRFE-SEM2021
蛍光X線分析装置甲府元素分析SII・SEA1200VXXRF2013
ハンドヘルド蛍光X線分析装置甲府元素分析リガク・Niton XL2 PlusHandheld XRF2021
示差走査熱分析装置甲府物性評価RIGAKU・Thermo plus DSC 8240DSC
ワンショット3D形状測定機甲府形状観察 形状測定キーエンス・VR-50002020
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