利用者各位
機器分析センター
電子線プローブマイクロアナライザー（EPMA）及び
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）更新のお知らせ
教職員・学生の皆様には日頃より機器分析センターの利用・管理運営にご協力いただき、ありがとうございます。
この度、電子線プローブマイクロアナライザー（EPMA）、電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）を更新する運びとなりました。現有装置の利用停止および、新規装置利用開始（予定）を下記の通り決定しましたので、ご確認ください。なお、現有装置のEPMA（JXA-8200）とFE-SEM（6500-F）は廃棄となります。
記
- 現装置利用可能期間 ； 2022年1月28日（金）17：00まで。
※当日まで利用可。装置内のデータは、必ず持ち帰ってください。 - 新規装置運用開始 ； 2022年4月1日（金）（予定）
- 場所 ； 機器分析センター2階電子線分析装置室（206号室）
- 更新機器 ； ① 電界放射型電子線マイクロアナライザー（FE-EPMA）
日本電子株式会社製：JXA-IHP2500F
※追加されている主なオプション：分光カソードルミネッセンス
② 電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
日本電子株式会社製：JSM-IT700HR/LA
※追加されている主なオプション：EDX
装置更新に伴い、現有装置の講習会は12月17日をもちまして終了いたします。また、新規装置搬入および立ち上げのために、2ヵ月間装置利用ができなくなりますがご了承ください。なお、機器分析センターは、もう一台FE-SEM；日立製S-5200（インレンズタイプ；観察可能な試料サイズに制限があります）を所有し、利用公開しております。詳しくは、下記の連絡先までお問い合わせください。
■ 連絡先；機器分析センター 内線；8420 E-mail；kbc@yamanashi.ac.jp
以上
