電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)及び 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)更新のお知らせ

利用者各位

機器分析センター 

電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)及び
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)更新のお知らせ

教職員・学生の皆様には日頃より機器分析センターの利用・管理運営にご協力いただき、ありがとうございます。

この度、電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)を更新する運びとなりました。現有装置の利用停止および、新規装置利用開始(予定)を下記の通り決定しましたので、ご確認ください。なお、現有装置のEPMA(JXA-8200)とFE-SEM(6500-F)は廃棄となります。

  • 現装置利用可能期間 ; 2022年1月28日(金)17:00まで。
                ※当日まで利用可。装置内のデータは、必ず持ち帰ってください。
  • 新規装置運用開始  ; 2022年4月1日(金)(予定)
  • 場所        ; 機器分析センター2階電子線分析装置室(206号室)
  • 更新機器      ; ① 電界放射型電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)
                日本電子株式会社製:JXA-IHP2500F
                ※追加されている主なオプション:分光カソードルミネッセンス
                ② 電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
                日本電子株式会社製:JSM-IT700HR/LA
                ※追加されている主なオプション:EDX

装置更新に伴い、現有装置の講習会は12月17日をもちまして終了いたします。また、新規装置搬入および立ち上げのために、2ヵ月間装置利用ができなくなりますがご了承ください。なお、機器分析センターは、もう一台FE-SEM;日立製S-5200(インレンズタイプ;観察可能な試料サイズに制限があります)を所有し、利用公開しております。詳しくは、下記の連絡先までお問い合わせください。

■ 連絡先;機器分析センター 内線;8420  E-mail;kbc@yamanashi.ac.jp

以上

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