教職員・学生の皆様には日頃より機器分析センターの利用・管理運営にご協力いただき、ありがとう ございます。
この度、集束電子イオンビーム装置（FIB）を更新する運びとなりました。現有装置の利用停止および、新規装置利用開始（予定）を下記の通り決定しましたので、ご確認ください。
記
現装置利用可能期間 ： 2026年1月15日（木）17：00まで
※当日まで利用可。装置内の試料は、必ず持ち帰ってください。
新規装置運用開始 ： 2026年4月1日（水）（予定）
場 所 ： 機器分析センター共同機器室（旧館）1階FIB室（B103号室）
更 新 機 器 ： 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）
日立ハイテク社製：高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000
※追加されている主なオプション：
・雰囲気遮断冷却メッシュホルダー
・Cut & See®三次元再構築イメージング
装置更新に伴い、現有装置を用いたTEM依頼試料の調製受付は、12月26日をもちまして休止いたします。また、新規装置の搬入および立ち上げ作業のため、約2ヵ月間は装置をご利用いただけませんので、あらかじめご了承ください。
詳細につきましては、下記の連絡先までお問い合わせください。
■ 連絡先；機器分析センター 内線；8420 E-mail；kbc@
以上
