依頼分析

次に掲げる各種機器については、センターのスタッフが依頼分析を受け付けております。
依頼分析を利用することで、機器の操作に習熟するための労力や測定のための時間を省けます。
山梨大学の教職員・学生ならどなたでも依頼できます(学生の場合は支払責任者の承諾を得ること)。
料金は依頼分析料金表をご参照ください。

 

イオンミリングや集束イオンビーム(FIB)装置による無機固体材料を対象としたTEM試料調製依頼を受け付けます。 短期間で技術を習得することが困難なTEM試料調製を専従の技術職員が行います。

依頼できる試料

2cm四方程度の板状試料が基本となりますが、その他の場合は打ち合わせの際にご相談ください。

受付内容

イオンミリングによる調製が適している試料(主に無機化合物)の機械的研磨とイオン研磨を行います。
また、FIB装置で加工可能な試料の場合には、そちらの装置を利用して加工を行う場合があります。
さらに、調製の様子を確認するための簡易的なTEM観察も行います。

依頼方法

依頼書に必要事項を記入の上、担当者の山本にご連絡ください。

TEM試料調製依頼書 (doc)

注意事項

公平を期すため、一度に受け付ける試料は1教員あたり2点までとします。先に申し込まれた試料の調製が完了しお渡しした時点で、次回の お申し込みを受け付けます。イオンミリングやFIB装置による試料調製は大変細かな作業で、標準的な納期は1試料あたり1ヵ月です。時間がかかることをご理解の上、お申し込み下さい。 また技術相談員の教員も相談に乗りますが、あくまでボランティアでの協力です。場合によっては打ち合わせまで時間を要することもありますが、ご了承下さい。

透過型電子顕微鏡(TEM)による観察について、以下のとおり依頼を受け付けます。

依頼できる試料

TEM用に調製された試料、なお試料調製ができない方は上記の調整依頼を利用してください。

受付内容

200kV TEMによる明視野像・暗視野像・回折図形等の観察を行います。

依頼方法

依頼書に必要事項を記入の上、担当者の山本にご連絡ください。

TEM観察依頼書 (doc) (試料調製と同一の書式です)

電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)を使用した元素分析とマッピング、およびそのための試料調製について、以下のとおり依頼を受け付けます。

依頼できる試料

直径1インチ以下の大きさで平面を有する試料が基本となりますが、その他の場合は打ち合わせの際にご相談ください。
真空中で気体や蒸気を放出するような試料は測定できません。

受付内容

元素の定性分析、定量分析、マッピング(線・面分析)を行います。
必要であればそのための試料調製として樹脂包埋・研磨・蒸着を行います。
有機物など電子線によりダメージを受けやすい試料は測定できないことがあります。

依頼方法

担当者の篠塚へまずはご連絡ください。

X線光電子分光装置(XPS)を使用したスペクトルの測定について、以下のとおり依頼を受け付けます。

依頼できる試料

1cm四方程度以下の板状試料が基本となりますが、その他の場合は打ち合わせの際にご相談ください。
真空中で気体や蒸気を放出するような試料は測定できません。

受付内容

ワイドスキャンならびにナロースキャンのX線光電子スペクトルの測定を行います。
イオン銃によるエッチング処理もできます。
なお導電性のない試料では場合によりうまく測定できないことがあります。

依頼方法

担当者の篠塚へまずはご連絡ください。
その後、依頼書と試料を用意していただき、センターで受付を行います。

XPS測定依頼書 (xlsx)

X線回折装置(XRD)を使用した測定について、以下のとおり依頼を受け付けます。

依頼できる試料

粉末または平面を有するバルク試料

受付内容

基本的な2θ/θ測定のほかにも薄膜を対象とした2θ測定、全反射測定、インプレーン測定、また極点図測定などが行えます。

依頼方法

担当者の篠塚へまずはご連絡ください。

核磁気共鳴装置(NMR)を使用したスペクトルの測定について、以下のとおり依頼を受け付けます。

依頼できる試料

試料を重溶媒に溶かし、サンプル管(φ5mm)に充填したもの。

受付内容

測定核:1H, 13C
測定方法:1次元

依頼方法

担当者の勝又へまずはご連絡ください。
その後、依頼書と試料を用意していただき、センターで受付を行います。

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