教職員・学生の皆様には日頃より機器分析センターの利用・管理運営にご協力いただき、ありがとう ございます。
この度、FIB-SEM（集束イオンビーム走査電子顕微鏡）の新規装置搬入作業を下記のとおり実施いたします。作業に伴い、安全確保のため旧館（共同機器室）を終日利用停止といたします。なお、作業が予定より早く終了した場合は、その時点で旧館の利用を再開いたします。
記
搬入日程 ： 2026年2月2日（月）8：30～17：00まで
※当日作業が完了次第、旧館の利用を再開いたします
場 所 ： 機器分析センター共同機器室（旧館）1階FIB室（B103号室）
更新機器 ： 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）
日立ハイテク社製：高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000
※追加されている主なオプション：
・雰囲気遮断冷却メッシュホルダー
・Cut & See®三次元再構築イメージング
作業当日、新館のご利用は可能ですが、搬入作業に伴い、騒音や振動が発生する場合がありますので、あらかじめご了承ください。本件に関するお問い合わせは、下記の連絡先までお願いいたします。
また、旧館の利用再開については、作業終了後に機器分析センターホームページおよび、設備ネットワークにてお知らせいたします。
■ 連絡先；機器分析センター 内線；8420 E-mail；kbc
