ブルカージャパン Dimension Icon
装置概要
SPM(Scanning Probe Microscope:走査型プローブ顕微鏡)は、プローブ(深針)と試料の間に作用する様々な物理量を検出し、微小領域の表面形状や物性を測定する顕微鏡の総称である。基本的な測定モードとしてAFM(原子間力顕微鏡)やSTM(走査型トンネル顕微鏡)、その応用としてSCM(走査型キャパシタンス顕微鏡)、EFM(電気力顕微鏡)、MFM(磁気力顕微鏡)などがあげられる。
AFMについてはさらに力の検出方式により、Contact、Tapping、PeakForce Tappingの３つに分類できる。TappingはContactを改良したもので現在標準的に使われているモードである。PeakForce Tappingはそれをさらに改良したものでBruker独自の方式である。
注意事項
- マニュアルに書いてある操作以外は行わずに、必要であれば別途講習を受けること。
- 全ての操作は慎重かつ丁寧に行うこと。一部高価なパーツを取り扱っている。
- PCのウイルス感染を防止するため、データの持ち出しは原則としてCD-ROMを用いること。
- PC上のデータは定期的に消去するため、各自責任を持ってデータを持ち帰ること。
- 測定に使用するスキャナーは湿度に弱いため、使用後はケースに戻しデシケータで保管すること。
- エアコンは使用時のみ電源を入れ、使用後は必ず電源を切ること。
設置場所
旧館 B208号室