X線光電子分光装置利用者講習会のお知らせ | 山梨大学機器分析センター

機器分析センターでは今年2月に新しいX線光電子分光装置(XPS)を設置いたしましたので、下記要領で講習会を開催いたします。

装置の利用を予定している方はご参加ください。

参加希望の方は、参加申込書に必要事項を記入の上、5月22日（木）までに機器分析センター事務室に提出してください。

なお、機器の利用申請書を提出していない方は、講習会時に利用申請書を
提出してください。

参加申込書及び利用申請書は下記リンクからダウンロードできます。

　　　　　　　　　　　　　　　　　記

日　時　令和7年5月28日（水）
・午前の部　 9：30～12：30 ・午後の部　13：30～16：30
　午前と午後は同じ内容ですので、どちらかにご参加ください。

場　所　機器分析センター新館3階305号室

機　種　X線光電子分光装置（XPS）（ULVAC PHI・GENESIS）

講　師　研究機器統轄センター　篠塚　郷貴　　技術職員
　　　　研究機器統轄センター　河村　隆之介　技術職員

内　容　装置の使用開始・終了手順、試料準備・分析室挿入、
　　　　 XPS測定(ワイドスキャン、ナロースキャン、デプスプロファイル)

形　式　現地参加とオンライン(Teams)のハイブリッドで行う予定です。