教職員・学生の皆様には日頃より機器分析センターの利用・管理運営にご協力いただき、ありがとう ございます。
この度、電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）を更新する運びとなりました。現有装置の利用停止および、新規装置利用開始（予定）を下記の通り決定しましたので、ご確認ください。
記
利用終了装置 ： 日本FEI製Tecnai Osirisおよび、日立製HD-2300C
現装置利用可能期間 ： 2026年4月10日（金）17：00まで
※当日まで利用可。装置内のデータは、必ず持ち帰ってください。新規装置運用開始 ： 2026年11月2日（月）予定（前倒しになる可能性あり）
場 所 ： 機器分析センター旧館（共同機器室）1階B104号室
更 新 機 器 ： 電界放出形透過電子顕微鏡（FE-TEM）
日本電子製 JEM-F200 ※以下詳細参照
装置性能および仕様
| 加速電圧 | 80, 120, 200ｋV |
| 電子銃 | 冷陰極電界放出形 |
| 観察モード | 走査透過暗視野像、走査透過明視野像、反射電子像 |
| 元素分析 | エネルギー分散形X線分析装置（EDS）※検出器2基搭載 |
| その他の機能 | EELS：CEOS社製 CEFIT |
| トモグラフィーシステム |
新規装置の搬入および立ち上げ作業のため、約半年間は装置をご利用いただけませんので、あらかじめご了承ください。詳細につきましては、下記の連絡先までお問い合わせください。
ご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解のほどお願い申し上げます。
■ 連絡先；機器分析センター 内線；8420 E-mail；kbc@
以上
