X線光電子分光分析装置(XPS)

日本電子　JPS-9200

装置概要

　MgまたはAlの特性X線を照射したときに試料の極表面(数 nm)から放出される電子の運動エネルギーを調べることで、試料表面を構成する元素の種類と量、化学結合状態(価数など)を明らかにする装置です。

設置場所

　新館 305号室